Handbook essencial para análises PIXE e de fluorescência.
Contém dados de raias de emissão e outros detalhes importantes.
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Bem vindo ao blog de discussões referentes à análise e modificação de materiais por feixes iônicos e suas contribuições nas diversas áreas da Ciência.
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14 de set. de 2012
11 de set. de 2012
Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling (IAEA-TECDOC)
Documento da IAEA que compila os resultados da Coordinated Research Project (CRP) que promoveu a análise de elementos leves com técnicas baseadas em aceleradores de partículas.
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4 de set. de 2012
Signal Processing and Electronics for Nuclear Spectrometry (IAEA-TECDOC)
Documento da IAEA sobre processamento de sinais em eletrônicas para detetores nucleares.
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28 de ago. de 2012
Instrumentation for PIXE and RBS (IAEA-TECDOC)
Documento elaborado pela agência internacional de energia atômica (IAEA - sigla em inglês) que descreve/recomenda os detalhes/soluções para procedimentos em análises por PIXE e RBS.
Altamente indicado para os iniciantes por conter explicações dos aparatos experimentais recomendados, e que são muito parecidos aos instalados no LAMFI.
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Altamente indicado para os iniciantes por conter explicações dos aparatos experimentais recomendados, e que são muito parecidos aos instalados no LAMFI.
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30 de mar. de 2012
Perda de energia e fragmentação de íons moleculares em cristais
Os fenômenos decorrentes da interação entre íons monoatômicos e a
matéria têm sido amplamente estudados há décadas. No entanto, um esforço
comparativamente menor tem sido despendido no estudo dos fenômenos
decorrentes da interação entre feixes moleculares e a matéria,
especialmente quando o alvo do feixe é um sólido cristalino. Tais
fenômenos, como a transferência de energia entre o feixe e a matéria, a
emissão de raios X induzidos pelos feixes e a geração de produtos de
reação nuclear sofrem importantes modificações no caso de feixes
moleculares. Essas alterações estão longe de ser explicadas por uma
simples soma dos efeitos causados pelos componentes individuais do
aglomerado iônico. Em particular, no caso de interação com sólidos
cristalinos, a fragmentação dos aglomerados causada pela explosão
coulombiana causa importantes efeitos sobre o fluxo de íons ao longo do
sólido. Finalmente, efeitos de vizinhança entre os componentes do
aglomerado alteram sensivelmente o valor da energia transferida entre
este e o sólido. Na descrição desses fenômenos, empregou-se, neste
trabalho, de um lado, a construção de um modelo teórico para a perda de
energia de aglomerados e, de outro, técnicas experimentais envolvendo
contagens de retroespalhamento, indução de raios X pelo feixe de íons e
geração de produtos de reação nuclear por feixes de H+, H2 + e H3 + em
Si e SIMOX. Como elo entre teoria e experimento, empregaram-se
simulações que descrevem a interação entre os íons moleculares e o alvo.
Pela primeira vez, alterações de fluxo de íons causadas pela explosão
coulombiana foram quantificadas, valores de perda de energia foram
obtidos e, finalmente, uma nova expressão simplificada para a
transferência de energia foi obtida.
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20 de jan. de 2012
Atomic radiative and radiationless yields for K and L shells
O corpo de informação disponíveis em rendimentos de fluorescência, Auger, e Coster-Kronig, as taxas de transição radiativas e não-radioativas, as larguras de nível, raios-x e larguras de linha Auger, x-ray e Auger espectros, e Coster-Kronig energias foi usado para gerar um conjunto internamente consistente de valores de rendimentos atômicos radiativos enão-radioativos para a camada K (5 < Z < 110) e as subcamadas L (12 < Z < 110). Valores de rendimentos de fluorescência, rendimentos de Coster-Kronig, Rendimentos Auger, e rendimentos eficaz de fluorescência são apresentados em tabelas e gráficos. Estimativas de incertezas são dadas. Gráficos atualizados e ampliados de larguras parciais e totais de K, L1, L2, L3 e os níveis são apresentados, bem como uma lista de referências de artigos publicados desde cerca de 1972.
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19 de jan. de 2012
Analytical application of particle induced X-ray emission
Trata-se de um artigo de revisão sobre a emissão de raios-X induzida por partículas carregadas (íons) e à utilização deste processo como um método analítico (PIXE). Os vários processos físicos envolvidos, emissão de raios X e as reações de fundo são descritos em detalhe. A discussão teórica da sensibilidade é feita. Arranjos experimentais são descritos e vários problemas práticos são discutidos em detalhe. Resultados sobre a precisão, sensibilidade e precisão obtidos até agora são revistos. Um grande número de aplicações em vários campos são descritos, especialmente em biologia, medicina e ciências ambientais. Uma comparação com outros métodos analíticos é feita.
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15 de dez. de 2011
Notas de aula do curso de Fundamentos de implantação iônica
Curso oferecido na XV Escola de Verão "Jorge André Swieca" de Física Nuclear Experimental - 2008.
Temas:
"Sputtering"
"Layer Mixing"
Modificação de semicondutores
Métodos de análise
(PIXE, RBS, SIMS)
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Temas:
"Sputtering"
"Layer Mixing"
Modificação de semicondutores
Métodos de análise
(PIXE, RBS, SIMS)
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14 de dez. de 2011
Notas de aula de análise de materiais por feixes iônicos
Notas de aula do curso de pós-graduação do IFUSP.
Aulas ministradas pelo Prof. Dr. Manfredo Tabacniks.
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Aulas ministradas pelo Prof. Dr. Manfredo Tabacniks.
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13 de dez. de 2011
12 de dez. de 2011
Análise de materiais por feixes iônicos
Tese de livre docência do Prof. Dr. Manfredo Tabacniks.
Texto completo sobre diversas técnicas de análise por feixes iônicos.
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10 de dez. de 2011
Estudo e caracterização de pátinas em cobre e bronze com técnicas PIXE e ED-XRF
No acervo que compõem o patrimônio cultural, há muitos utensílios, obras
de arte, monumentos, etc., que são feitos de metais. Mas dentre os
diversos metais existentes, o cobre possui uma posição de destaque na
história, pois este foi o primeiro utilizado pela humanidade. Os metais
quando expostos à atmosfera podem sofrer processos de corrosão, o que
pode comprometer um artefato histórico. No cobre e suas ligas, o produto
dos processos de corrosão é denominado pátina. O estudo das pátinas e
das ligas que compõe a matriz, no qual a pátina se forma, é de
fundamental importância para a compreensão dos processos de corrosão.
Com esta informação, puderam-se determinar as melhores técnicas de
conservação e restauração que devem ser aplicadas. No presente estudo
utilizou-se pátinas artificiais, que já são amplamente conhecidas, e
possibilitam a simulação de pátinas naturais, além de ser possível
utilizá-las na recolocação de pátinas que fora removidas e/ou perdidas
de peças metálicas. Em um estudo anterior foram produzidas pátinas
artificiais a partir de três soluções utilizando dois procedimentos de
preparação e a análise foi realizada através das técnicas: EIS
(Espectroscopia por Impedância Eletroquímica), MEV (Microscopia
Eletrônica de Varredura), e XRD (Difração de Raio X), que são
consideradas técnicas micro-destrutivas. No presente estudo, destas
mesmas pátinas, utilizou-se para análise as técnicas de PIXE (Emissão de
Raio X Induzido por Partícula) e ED-XRF (Fluorescência de Raio X por
Dispersão de Energia), ambas não destrutivas e, no caso de ED-XRF, mais
frequentemente, possível ser utilizada in situ. Estas técnicas permitem a
analise de obras de arte em atmosfera, em um arranjo externo, o que
contribui para a análise de peças de diferentes formas e tamanhos. Os
resultados obtidos mostraram que o PIXE possui uma melhor caracterização
de elementos leve, enquanto que o ED-XRF é melhor para elemento
pesados. Na comparação entre PIXE interno e externo, observou-se que a
montagem externa é suficiente na análise desse tipo de material. As
medidas de padrões de aço validaram a técnica PIXE para análise de alvos
grossos e permitiram quantificar os elementos presentes nas amostras.
Tanto PIXE, quanto ED-XRF, mostraram nas análises das amostras os
elementos que estão presentes nas soluções aplicadas. Além disso, houve
um aumento do enxofre em algumas amostras e pátinas, e isto pode indicar
que este elemento foi agregado com o tempo nas amostras, devido à
exposição à atmosfera. Em comparação ao estudo anterior, que
caracterizou a composição das camadas de pátinas em amostras
semelhantes, foi possível mostrar que se pode determinar e quantificar
com PIXE eED-XRF os elementos presentes sem que seja necessária a
retirada do material a ser analisado, principalmente se aplicadas para a
análise de peças com valor histórico e cultural. O estudo utilizando as
técnicas PIXE e/ou ED-XRF, juntamente com técnicas EIS, SEM e XRD,
torna as respostas mais completas, mas nem sempre isso é possível em se
tratando de bens do patrimônio histórico, cultural e artístico.
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A razão Sr/Ca em hidroxiapatita produzida a partir de células ósseas humanas em ambientes com diferentes concentrações de estrôncio
Esta dissertação de mestrado descreve o estudo realizado sobre como a
oferta de estrôncio afeta a razão Sr/Ca em hidroxiapatita formada in
vitro. Este trabalho pretende dar subsídios para que posteriormente seja
possível fazer um estudo da razão Sr/Ca em função da temperatura também
em hidroxiapatita formada in vitro. Foram utilizadas células
osteoblásticas da linhagem MG-63 com concentrações de estrôncio no meio
de cultura que variaram de 0,0 até 33,0 microgramas por mL de meio. Os
nódulos ósseos formados pelas células foram caracterizados pelas
técnicas Absorção de Infravermelho por Transformada de Fourier (FT-IR),
que foi utilizada com o objetivo de identificar ligações de fosfato nas
amostras, e Difração de Raios-X (XRD), que teve como objetivo confirmar a
presença de hidroxiapatita nos minerais formados e comparar a
cristalinidade do material com e sem estrôncio. A quantificação da razão
Sr/Ca foi feita utilizando as técnicas Retro-espalhamento Rutherford
(RBS) e Emissão de Raios-X por Indução de Partículas (PIXE), que são
capazes de fazer a identificação e quantificação elementar. Os
resultados obtidos mostram que os nódulos formados são compostos por
hidroxiapatita. Com relação à quantificação, mostrou-se que não foi
possível substituir mais de 10% do íons de cálcio por íons de estrôncio,
o que está de acordo com previsões teóricas. Além disso, para altas
concentrações de estrôncio no meio a mineralização do cálcio diminuiu
duas ordens de grandeza e as medidas da razão Sr/Ca obtiveram resultados
bastante dispersos, indicando uma possível mudança metabólica das
células que parece inviabilizar o bom funcionamento fisiológico das
mesmas.
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9 de dez. de 2011
Análise de elementos traço em amostras de sedimento da região do Rio Toledo
Neste trabalhado são caracterizados amostras de sedimento de vários
pontos ao longo do Rio Toledo-PR, usando a técnica PIXE (Particle
Induced XRays Emission), a fim de quantificar elementos traço que podem
nos fornecer as possíveis fontes de poluentes deste rio. As amostras
foram coletadas em seis pontos do leito do rio, durante um período de
doze meses (12/2001 a 11/2002). O material coletado foi seco à
temperatura ambiente, depois de peneirado e moido, e compactado em
pastilhas. A irradiação das amostras foi realizada no LAMFI (
Laboratório de Análises de Materiais por Feixe Iônico) utilizando um
feixe monoenergético de H+ de 2:39 MeV. A detecção dos raios X foi
efetuada por um detector Si(Li) e uma eletrônica padrão. A análise dos
espectros PIXE, usando o programa AXIL, nos permitiu identificar e
quanti ficar alguns dos elementos presentes na amostra. As amostras
analisadas são alvos grossos, assim sendo as concentrações necessitam de
uma validação, para isto uma amostra referenciada (sedimento do Rio
Búfalo - RM 8704) foi utilizada nos cálculos das concentrações
elementares. Nas amostras analisadas foram identificados 18 elementos,
sendo estes: Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn,
Zr e Pb. Destes elementos decidimos monitorar os seguintes: V, Cr, Mn,
Co, Ni, Cu, Zn e Pb.
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5 de dez. de 2011
A técnica de análises PIXE (Particle Induced X-ray Emission) de alvos
finos é rotineiramente usado no Instituto de Física da Universidade de
São Paulo (USP) pelo Lamfi (Laboratório de Materiais e Feixes Iônicos)
em análises quantitativas elementares. A calibração do arranjo
experimental do Lamfi é realizada através da irradiação de filmes finos
padrões evaporados, sendo o rendimento de produção de raios X ajustado a
partir deprimeiros princípios. Em análises PIXE de alvos espessos
(TTPIXE), a composição daparticular amostra introduz efeitos de perda de
energia das partículas incidentes e autoabsorção dos raios X
produzidos. Estes efeitos são inexistentes na análise PIXE de
alvosfinos. Paradoxalmente há a necessidade de se conhecer a composição
da amostra, paracomputar estes efeitos, numa análise elementar
quantitativa de alvos espessos. Este trabalhopropõe a diluição de
amostras sólidas numa matriz conhecida onde as características de perda
de energia das partículas incidentes e auto absorção da radiação
produzida estejam caracterizadas (exemplo: ácido bórico, grafite) e
supostamente não sofram alterações devido à introdução da amostra
(diluição). Para o cálculo do rendimento de produção de raios X em
análises TTPIXE é proposto um fator de correção para alvos espessos,
dependente exclusivamente da matriz diluidora, aplicado ao rendimento de
produção de raios X de alvos finos. Este procedimento viabiliza a
utilização da curva de resposta para análises de alvos finos, já
calibrada, do arranjo. Utilizando os modelos mais aceitos para o poder
de freamento para prótons incidentes, seções de choque de produção de
raios X e coeficientes de absorção de radiação pela matéria, o software
(Clara) foi desenvolvido para o cálculo do rendimento de produção de
raios X em alvos espessos, bem como os fatores de correção para dado
raio X e determinada matriz. Alvos espessos foram confeccionados a
partir de amostra padrão de referência (SRM-IAEA356 Marine sediment)
para verificar os valores calculados pelo Clara e da metodologia de
análise proposta. Os valores experimentais encontram-se em concordância
com os valores certificados para um coeficiente de intervalo de
confiança de 95% considerando o novo limite de detecção imposto pela
diluição. Um roteiro para preparação de alvos espessos a partir de
amostras sólidas, bem como a descrição do arranjo experimental, estão
inclusos.
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3 de dez. de 2011
Elementos traço em soro sanguíneo medidos pelos métodos PIXE e ICP-MS
O principal objetivo deste trabalho foi desenvolver uma metodologia de
análise de soro sanguíneo utilizando os métodos Proton Induced X-ray
Emission (PIXE) e Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (ICP-MS).
O PIXE é um método de análise multielementar baseado na detecção dos
raios-X característicos emitidos pelas amostras, quando bombardeadas com
feixes de íons (H+, He+, ...) com energia da ordem de alguns MeV. Já o
ICP-MS é um espectrômetro de massa que analisa componentes de amostras
ionizadas, separados de acordo com suas razões massa carga (m/z). Para a
realização deste estudo, as amostras de sangue dos voluntários (30
jovens com idade entre 18 e 25 anos) foram coletadas no Hospital
Universitário da USP utilizando tubos de vidro da BD VacutainerTM sem
aditivos (Processo do Comitê de Ética: HU-615/05). O soro foi obtido
pela centrifugação dos tubos a 3000 rpm. As amostras foram pipetadas
sobre Nuclepore (10um de espessura) e secas a temperatura ambiente, para
o método PIXE, e diluídas de 1:10, para as análises com ICP-MS. A
acurácia dos resultados foi verificada analisando materiais de
referências de soro do National Institute of Public Health - Québec
(ICP-03B-02 e ICP-02-S-05). A análise dos padrões apresentou 78% dos
dados entre ±1?, 14% entre ±2? e 4% além de ±3?. Este estudo de
elementos traço em soro humano revelou um total de 22 elementos: Be, Al,
P, S, Cl, K, Ca, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Br, Mo, Cd, Sn, Tl e
Pb, com concentrações entre 9 ng/l e 6 g/l, o que compreende 9 ordens
de grandeza, e também permitiu o estudo das funções de distribuição de
probabilidades dos elementos. As técnicas utilizadas foram eficientes e
complementares na realização deste trabalho. Os resultados das
concentrações elementares medidas neste trabalho concordaram com os
valores da literatura.
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