Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling (IAEA-TECDOC)

Documento da IAEA que compila os resultados da Coordinated Research Project (CRP) que promoveu a análise de elementos leves com técnicas baseadas em aceleradores de partículas.

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Notas de aula do curso de Fundamentos de implantação iônica

Curso oferecido na XV Escola de Verão "Jorge André Swieca" de Física Nuclear Experimental - 2008.

Temas:
"Sputtering"
"Layer Mixing"
 Modificação de semicondutores
 Métodos de análise
(PIXE, RBS, SIMS)

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Notas de aula de análise de materiais por feixes iônicos

Notas de aula do curso de pós-graduação do IFUSP.
Aulas ministradas pelo Prof. Dr. Manfredo Tabacniks.

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Análise de materiais por feixes iônicos

Tese de livre docência do Prof. Dr. Manfredo Tabacniks.
Texto completo sobre diversas técnicas de análise por feixes iônicos.

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Medida de nitrogênio profundo em aços especiais

O presente trabalho teve como objetivo caracterizar amostras de aço nitretado, calculando as concentrações elementares e determinando o perfil em profundidade do elemento nitrogênio, utilizado para melhorar a ductibilidade do material. As amostras foram caracterizadas através das técnicas Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA) para a determinação da concentração atômica e a análise do perfil em profundidade de elementos leves na região superficial das amostras, Particle Induced X-Ray Emission (PIXE) para a determinação da composição da matriz do aço e a densidade de massa do material, Nuclear Resonant Analysis (NRA) para a determinação da concentração relativa em diferentes profundidades, realizando um perfil em profundidade mais interna do elemento nitrogênio nas amostras e X-Ray Diffraction (XRD) para a determinação da estrutura cristalina das amostras. Para a realização deste estudo foram utilizados dois conjuntos de amostras, o conjunto MET composto por amostras com nitrogênio mais profundo, obtidas a partir de tratamentos térmicos distintos e o conjunto de amostras CEFET, que contém nitrogênio na região superficial das amostras, utilizados para o estudo da técnica NRA. As técnicas utilizadas demonstraram ser sensíveis a modificações realizadas nas amostras, podendo-se concluir que os diferentes processos térmicos aos quais as amostras foram submetidas alteram as características e propriedades das amostras. Os resultados obtidos para as amostras do conjunto MET mostram que apesar de possuírem a mesma concentração na liga metálica, apresentam diferenças nas estruturas cristalinas. Além disso, é possível verificar que o efeito de dissolução do elemento nitrogênio nas amostras em cortes de diferentes profundidades de uma mesma peça pode ser corretamente avaliado ao correlacionar os resultados obtidos pelas diversas técnicas empregadas.

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