Analytical application of particle induced X-ray emission

Trata-se de um artigo de revisão sobre a emissão de raios-X induzida por partículas carregadas (íons) e à utilização deste processo como um método analítico (PIXE). Os vários processos físicos envolvidos, emissão de raios X e as reações de fundo são descritos em detalhe. A discussão teórica da sensibilidade é feita. Arranjos experimentais são descritos e vários problemas práticos são discutidos em detalhe. Resultados sobre a precisão, sensibilidade e precisão obtidos até agora são revistos. Um grande número de aplicações em vários campos são descritos, especialmente em biologia, medicina e ciências ambientais. Uma comparação com outros métodos analíticos é feita.


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