14 de fev. de 2012

Laboratório Alemão que utiliza dois tipo de SIMS com feixes de O+, Cs- e Ar+

Clicando aqui, você acessa o site do laboratório de Física Alemão: Physikalisches Institut der JLU Giessen, encontrando dois espectrômetros de massa por íons secundário - SIMS que lá se encontram. Note que as medidas são realizadas nos dois espectrômetros, sendo eles:

1) SIMS Modelo - Miq 56A da empresa CAMECA/Riber, o qual utiliza feixe de argônio e de oxigênio na forma de partículas (íons) primárias. Além disso, uma fonte de gálio com elevada resolução de imagem é também utilizada.

2) SIMS Modelo - 256 da empresa Miq CAMECA/Riber, que tem uma fonte de geração de íons primários de oxigênio e outra de césio. Isso mesmo, duas fontes no mesmo SIMS. 


No caso do nosso laboratório, LAMFI - IFUSP, temos o SIMS modelo 256 da empresa CAMECA com uma fonte de íons capaz de gerar feixes primários de oxigênio.

Nenhum comentário:

Postar um comentário

Comente, discuta, participe!