Clicando aqui, você acessa o site do laboratório de Física Alemão: Physikalisches Institut der JLU Giessen, encontrando dois espectrômetros de massa por íons secundário - SIMS que lá se encontram. Note que as medidas são realizadas nos dois espectrômetros, sendo eles:
1) SIMS Modelo - Miq 56A da empresa CAMECA/Riber, o qual utiliza feixe de argônio e de oxigênio na forma de partículas (íons) primárias. Além disso, uma fonte de gálio com elevada resolução de imagem é também utilizada.
2) SIMS Modelo - 256 da empresa Miq CAMECA/Riber, que tem uma fonte de geração de íons primários de oxigênio e outra de césio. Isso mesmo, duas fontes no mesmo SIMS.
No caso do nosso laboratório, LAMFI - IFUSP, temos o SIMS modelo 256 da empresa CAMECA com uma fonte de íons capaz de gerar feixes primários de oxigênio.
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