Clicando aqui você acessa o site do oitavo workshop europeu de Secondary Ion Mass Spectrometry - SIMS. No IFUSP e na UNICAMP existem 2 equipamentos destes, fabricados pela empresa americana CAMECA. Estes espectrômetros são utilizados para uma análise elementar de amostras, com sensibilidade podendo chegar a frações de ppm, dependendo das condições da análise.
Ou clique aqui para acessar o sítio da décima terceira conferência internacional de Particle Induced X-Ray Emission que será realizado na cidade de Gramado, no estado de Rio Grande do Sul - Brasil, pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul - UFRGS.
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