Calibração do Sistema PIXE-SP de análise elementar

Descreve-se a implantação do sistema PIXE-SP de Análise Elementar no Instituto de Física da Universidade de São Paulo. O PIX-SP, que opera com alfas de 8 MeV, foi calibrado quantitativamente para as linhas Ka e La de elementos com 11<Z<40 e Z>30, respectivamente. Utilizaram-se alvos-padrões de Al, Si, BaCl2, K2CrO4, Ti, Cr, Mn, Fe, Cu, Ge, Ag, Sn e Au. Os padrões, preparados no próprio IFUSP, são finos, homogêneos e foram calibrados por gravimetria com precisão média de 6%. A precisão de calibração do PIXE-SP foi avaliada em cerca de 30% para elementos com Z>16 e Z>30. O limite de deteção estimado num alvo de Kimfol com 220 ug/cm2 de espessura, irradiação com 10uC de carga, apresenta o mínimo de 0,1ng (-4ppm) no Mn. O PIXE-SP foi intercalibrado com o PIXE da Universidade de Gent, Bélgica, por meio de 12 amostras de aerossol atmosférico coletadas por Impactador em Cascata, modelo Batelle. Para 16<Z<30, o resultados concordam em 20%.

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